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利用被钉扎层调控自旋阀的磁电阻值

文字:[大][中][小] 手机页面二维码 2026-01-25     浏览次数:    

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  内容提示:利用被钉扎层调控自旋阀的磁电阻值高晓平h2,宋玉哲2,韩根亮2,张彪2,刘肃¨( 1.兰州大学物理科学与技术学院,甘肃兰州730000;2.甘肃省科学院传感技术研究所,甘肃兰州730000)摘要:利用高真空直流磁控溅射仪,在玻璃衬底上制备了结构为“ G 1ass/Ta( 6 nm ) /N i Fe( 6 nm ) /CoFe( 1 nm ) /Cu( 3 nm ) /CoFe( t nm ) /IrM n( 11 nm ) /Ta( 6 nm ) ” 的自旋阀.研究了被钉扎层CoFe的厚度£对自旋阀磁性能的影响,当£为7.5nl n时自旋阀主要性能达到最佳,并且在外加磁场4 000 O e下,270℃保温3h退火处理后,自旋阀的G M R值进一步达到5.5%,自由层矫顽力为3 U e,交换偏置场为130O e.通过以上的优...

  利用被钉扎层调控自旋阀的磁电阻值高晓平h2,宋玉哲2,韩根亮2,张彪2,刘肃( 1.兰州大学物理科学与技术学院,甘肃兰州730000;2.甘肃省科学院传感技术研究所,甘肃兰州730000)摘要:利用高真空直流磁控溅射仪,在玻璃衬底上制备了结构为“ G 1ass/Ta( 6 nm ) /N i Fe( 6 nm ) /CoFe( 1 nm ) /Cu( 3 nm ) /CoFe( t nm ) /IrM n( 11 nm ) /Ta( 6 nm ) ” 的自旋阀.研究了被钉扎层CoFe的厚度£对自旋阀磁性能的影响,当£为7.5nl n时自旋阀主要性能达到最佳,并且在外加磁场4 000 O e下,270℃保温3h退火处理后,自旋阀的G M R值进一步达到5.5%,自由层矫顽力为3 U e,交换偏置场为130O e.通过以上的优化方案,可以研制出高磁电阻率、低矫顽力和大交换偏置场的自旋阀.关键词:中图分类号:0484.4+3自旋阀;被钉扎层;磁电阻值;退火文献标志码:A文章编号:1004 0366( 2014) 03 0059 0319世纪中叶英国著名物理学家W .Tom son发现磁场可以使许多金属的电阻发生改变,不过变化率很小,一般不超过2%.1988年Peter G rO nbergEl l和Al bert Fert[ 21分别在FeCrFe和FeCr多层膜系统中发现了超过50%的磁电阻变化率,这个结构远远超过了多层膜中Fe层磁电阻的总和,所以这种现象被称为巨磁电阻G M R效应 。I.巨磁阻效应自从被发现以来就被用于开发研制硬磁盘的数据读出头,由于体积小且灵敏度高等优点,使得存储单字节数据所需的磁性材料尺寸大为减少,从而使得磁盘的存储能力得到大幅度的提高 “ .自旋阀巨磁电阻不但涵盖了多种常用的磁性多层膜材料,而且具有制备工艺简单、结构简单、灵敏度高、磁电阻效应大等优点 5。⋯ ,因此不但在理论研究上具有非常重要的价值,而且在自旋电子器件中也具有最广泛地应用.1实验方法1.1薄膜的制备利用高真空直流磁控溅射的方法,在玻璃衬底上制备了结构为“ 玻璃衬底/Ta( 6 nm ) /N i Fe( 6nm ) /CoFe( 1 nl l l ) /Cu( 3 nm ) /CoFe( £nm ) /IrM n( 11 nm ) /Ta( 6nm ) ” 顶钉扎的自旋阀.溅射的本底线~Pa,溅射时的工作气体为高纯氩气.溅射在室温环境下进行.表1为各层材料的溅射功率、沉积速率和溅射气压.表1各材料的溅射参数Tabl e 1Sputteri ng param eters of thesam pl es1.2自旋阀的磁性能测试对于自旋阀薄膜的磁电阻特性的测量,使用的磁电阻测试系统是自主开发的自动化测试系统,包括硬件部分和软件部分.硬件部分包括:计算机( 含有收稿日期:201403 12基金项目:甘肃省科学院青年科技创新基金项目计划( 20] 2Q N07) ;甘肃省科学院应用研究与开发计划( 2013J K 01) ;甘肃省科学院应用研究与开发计划( 2013J K 02)作者简介:高晓平( 1981) ,男,甘肃白银人,硕士研究生,工程师,主要从事自旋电子学的研究.E m ai l :ga0 xp02@ 163.。om*通讯作者:E m ai l :l i usu@ l zu.edu.cn万方数据

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